W-20韋氏硬度計檢測方法

韋氏硬度檢測方法起源于美國，由美國Webster公司生產Webster B韋氏硬度計。韋氏硬度計早在20世紀80年代就隨鋁型材生產線的引進而進入我國。由于其使用上的特點，應用逐年增多，且國內已能生產品質優良的韋氏硬度計。現在已有韋氏硬度計計量檢定規程“金屬韋氏硬度計JJG944―1999（試行）”和有色金屬行業標準《鋁合金韋氏硬度試驗方法》YS/T420—2000和YS/T471—2004《銅合金韋氏硬度試驗方法》標準。但有關韋氏硬度的技術資料介紹較少。

W-20韋氏硬度計檢測方法原理

韋氏硬度計的基本原理是采用一定形狀的淬火壓針，在標準彈簧檢測力作用下壓入試樣表面，定義0.0lmm的壓入深度為一個韋氏硬度單位。材料的硬度與壓入深度成反比。壓入越淺硬度越高，壓入越深硬度越低。
韋氏硬度計計算公式
HW=20-L/0.01　　 (8—1)
式中：　HW——韋氏硬度符號；
L——壓針伸出長度，即壓入試樣深度/mm；
0.01——定義值/mm
硬度值的表示：如壓針只壓入深度0.05mm，表頭指針將指示在15刻度。表示為HW=20-5=15單位硬度值，將其書寫于硬度符號之前，即為15HW。
韋氏硬度計結構
W-20韋氏硬度計檢測方法全貌見圖1，

其結構見圖8―2，

壓針形狀見圖3

如圖所示，硬度計由以下三個主要部件組成：框架、手柄、壓針組件。壓針組件包括壓針、負荷彈簧、調節螺母、壓針套筒、復位鍵、復位彈簧、表頭等。壓下手柄時，壓針組件作為一個整體移向砧座。

在壓下手柄過程中，壓金組件移向被測件，壓針*首先與被測件接觸。繼續壓緊手柄，會使壓針一部分刺入被測件，另一部分向后退入壓針套筒內，并與負荷彈簧的彈力相作用。

當壓針套筒的端面與被測件相抵時，即可感到已觸到底，此時表頭指針將指到一個硬度讀數，這就是被測件的硬度值。

硬度計的表頭安裝在壓針套筒的上端，指針由壓針的移動來驅動。對于特別硬的金屬，壓針將全部退入壓針套筒，直至其*與壓針套筒端面平齊。這是壓針的*大行程位置，指針會指到20。對于特別軟的金屬，壓針*將全部壓入金屬中，而不會向壓針套筒內移動，這時表頭指針將保持在*低位置不變。